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思瑞掃描型三坐標(biāo)測量機 CROMA PLUS，一款專為復(fù)雜曲面檢測而匠心設(shè)計的檢測設(shè)備，搭載高精度掃描控制系統(tǒng)，采用連續(xù)掃描技術(shù)，實現(xiàn)高速、高精度采樣，動態(tài)性能好，可擴展多種傳感器，被廣泛應(yīng)用于各項復(fù)雜曲面的高精度檢測任務(wù)。
CROMA PLUS三坐標(biāo)測量機利用 DCC Scanning 掃描模塊配合X1掃描測頭，可解決具有曲線、曲面等復(fù)雜型面零件的檢測和逆向要求。同時X 1掃描測頭也應(yīng)用在我們集團的高精度萊茲三坐標(biāo)上。
再采用不同的掃描模式，例如開線掃描、閉線掃描和自由掃描等，可輕松完成數(shù)據(jù)采集或與CAD數(shù)模比對。
獨特的飛行模式減少了運動中的停頓和拐角，從而確保了測量機的工作效率及運行的穩(wěn)定性。
高硬件配置的CROMA PLUS三坐標(biāo)測量機搭載業(yè)界標(biāo)桿測量軟件PC-DMIS或Rational DMIS，全球裝機量超過100,000套，以其直觀、強大、便捷等特點得到CMM業(yè)內(nèi)專家的高度評價，為客戶提供更加智能的測量方案，為企業(yè)提供更加貼近客戶需求的服務(wù)。
思瑞以集團化的全球供應(yīng)商平臺和標(biāo)準(zhǔn)工藝流程，共同保證CROMA PLUS三坐標(biāo)測量機的每一個細(xì)節(jié)，讓測量機被廣泛應(yīng)用于汽車、電子、軍工、航空航天等領(lǐng)域。
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